專注于半導體電性能測試
7月8日,2024慕尼黑上海電子展在上海新國際博覽中心開幕,本屆展會以新能源汽車、儲能、智能駕駛、衛星通信、機器人、可穿戴、智能建筑、邊緣智能、智慧電源、第三代半導體等應用領域為年度熱門趨勢,匯聚國內外優質電子企業,旨在打造從產品設計到應用落地的橫跨產業上下游的專業展示平臺。普賽斯儀表攜半導體測試測量設備及測試解決方案亮相E7館 7162展位。
半導體產業作為電子信息制造業高地,是經濟和社會發展的戰略性、先導性和基礎性產業, 涉及大量先進科學技術。“碳達峰”、“碳中和”目標也同時強調和指明了能源結構調整方向,再次將節能減排、低碳經濟推向高潮。以IGBT為代表的功率半導體是電力電子設備的核心器件,也是能源轉換與傳輸的關鍵。
在新能源汽車、光伏儲能、軌道交通、工業控制等領域,碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等第三代半導體材料由于其具有高溫、高壓、高頻、抗輻射等特點備受青睞,可實現更高效的電子電力設備。然而,由于其上市應用時間相對較短,潛在的缺陷尚未完全暴露,失效機制也尚未清晰。因此,通過科學的測試測量手段,對其進行有效的評估和驗證尤為重要。
通常,IGBT/SiC/GaN功率半導體器件特性測試分為靜態特性測試和動態特性測試,靜態特性測試主要是表征器件本征特性指標,如擊穿電壓 V(BR)DSS、漏電流ICES/IDSS/IGES/IGSS、閾值電壓VGS(th)、跨導Gfs、壓降VF 、導通內阻RDS(on)等;動態特性測試是功率半導體器件的重要特性,如開通特性測試、關斷特性測試、FRD反向恢復特性測試、柵極電荷特性測試、短路特性測試、模塊電感特性測試、安全工作區SOA特性測試等,主要采用雙脈沖測試進行。
深度融合
功率半導體電性能表征一站式解決方案
普賽斯儀表以核心源表為基礎,聚焦功率半導體測試需求,從底層研發著手,大力推動多維技術的融合創新,對核心技術攻堅克難,展會現場展出了功率半導體靜態測試一體化解決方案。
PMST系列功率器件靜態參數測試系統
PMST系列功率器件靜態參數測試系統集多種測量和分析功能于一體,不僅提供IV、CV、跨導等多元化的測試功能,具備高電壓和大電流特性(10kV/6000A),以及μΩ級精確電阻測量和nA級漏電流測量能力,能夠全面滿足從基礎功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁帶半導體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模塊的靜態參數表征和測試需求。核心關鍵儀表均自主研發,憑借其優異的性能、靈活的配置和易操作的用戶界面,成為眾多功率半導體廠家靜態參數測試的優選工具。
SPA6100半導體參數分析儀
SPA6100半導體參數分析儀可以同時支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試。產品支持最高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測量,同時檢測10kHz至1MHz范圍內的多頻AC電容測量。搭載專用半導體參數測試軟件,支持交互式手動操作或結合探針臺的自動操作,能夠從測量設置、執行、結果分析到數據管理的整個過程,實現高效和可重復的器件表征;也可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用,滿足高低溫測試需求。
此外,為適應各種功率器件封裝類型的需求,普賽斯儀表可提供多樣化、精細化、定制化的夾具解決方案,可覆蓋TO單管、半橋模組、三相半橋模組等產品的測試。
展會現場,普賽斯儀表還展示了自主研發的核心源表系列(SMU)、脈沖恒流源 (FIMV)、高壓電源 (FIMV、FVMI)、數據采集卡等產品,以及從材料、晶圓到器件的半導體全產業鏈電性能測試解決方案,吸引了眾多業內人士的關注。
結語
低碳化、智能化是整個電子信息產業的長遠發展目標,也是未來的主旋律,而實現目標需要產業鏈的協同努力。可靠高效的測試設備,是半導體行業發展和進步不可或缺的重要環節之一。
普賽斯儀表作為國內首家成功實現高精密源/測量單元SMU產業化的企業,具備多年的技術積累和創新成果,未來將始終堅持創新驅動、持續加大研發投入,以更優異的測試技術助力產業發展!